316 pages - November 2023
ISBN papier : 9781784058852
ISBN ebook : 9781784068851

Clear

– Paperback:
Free delivery for any order placed directly through the ISTE Group website istegroup.com
Delivery time: approximately two weeks
Deliveries only within metropolitan France, Belgium, Switzerland and Luxembourg
Printed in color
An ebook version is provided free with every hardcopy ordered through our website
It will be sent after the order is completed
Offer not applicable to bookshops

– Ebook:
Prices reserved for private individuals
Licenses for institutions: contact us
Our ebooks are in PDF format (readable on any device)

Sorry, this entry is only available in French.

1. La jouvence du synchrotron européen ESRF : évolution ou révolution ?
2. Concepts généraux en tomographie haute résolution par rayons X
3. Systèmes complexes naturels et manufacturés : apport des techniques d’imagerie de rayons X
4. Apport des rayons X à l’étude de microstructures et propriétés mécaniques sous pression
5. Diffusion et diffraction des rayons X aux petits angles et matière molle : cas des polymères semi-cristallins
6. Les rayons X pour la caractérisation in situ et operando de catalyseurs hétérogènes
7. Étude des domaines ferroélectriques à basse dimensionnalité : apport de la diffraction de rayons X
8. L’éclairage à base de diodes électroluminescentes : le rôle des luminophores
9. Les rayons X pour l’étude des matériaux du patrimoine

René Guinebretière

René Guinebretière est professeur à l’Université de Limoges. Il enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux. Ses recherches portent sur l’étude par diffusion et diffraction des rayons X de la microstructure à l’échelle nanométrique de matériaux à base d’oxydes au sein du laboratoire IRCER associé au CNRS.

Philippe Goudeau

Philippe Goudeau a été directeur de recherche au CNRS au sein du département physique et mécanique des matériaux de l’institut Pprime de l’Université de Poitiers. Ses recherches concernaient l’étude des effets de microstructure et de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.