pages
264
ISBN
9781785480140

Sorry, this entry is only available in French.

Buy on Amazon
Available at your bookseller and Amazon

Sorry, this entry is only available in French.

1. Highly Accelerated Testing, Philippe Pougnet, Pierre Richard Dahoo and Jean-Loup Alvarez.
2. Aging Power Transistors in Operational Conditions, Pascal Dherbecourt, Olivier Latry, Karine Dehais-Mourgues, Jean-Baptiste Fonder, Cédric Duperrier, Farid Temcamani, Hichame Maanane and Jean-Pierre Sipma.
3. Physical Defects Analysis of Mechatronic Systems, Christian Gautier, Eric Pieraerts and Olivier Latry.
4. Impact of Voids in Interconnection Materials, Pierre Richard Dahoo, Malika Khettab, Christian Chong, Armelle Girard and Philippe Pougnet.
5. Electro-Thermo-Mechanical Modeling, Abderahman Makhloufi, Younes Aoues and Abdelkhalak El Hami.
6.Meta-Model Development, Bouzid Ait-Amir, Philippe Pougnet and Abdelkhalak El Hami.
7. Optimizing Reliability of Electronic Systems, Younes Aoues, Abderahman Makhloufi and Abdelkhalak El Hami.
8. High-Efficiency Architecture for Power Amplifiers, Farid Temcamani, Jean-Baptiste Fonder, Cédric Duperrier and Olivier Latry.

Abdelkhalak El Hami

Abdelkhalak El Hami est professeur des universités à l’INSA de Rouen Normandie. Il est responsable de plusieurs projets pédagogiques européens et spécialiste des problèmes d’interaction fluide-structure et fiabilité des systèmes multi-physiques.

Philippe Pougnet

Philippe Pougnet est un expert en fiabilité et en technologie-produit-processus. Il est ingénieur-docteur de l’Université scientifique et médicale de Grenoble et ingénieur de l’INPG.