280 pages - décembre 2015
ISBN papier : 9781784051129
ISBN ebook : 9781784061128

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Pédagogiques, les ouvrages Rayons X et Matière proposent une synthèse complète, aussi bien au niveau des instruments, de la méthodologie, des applications ou des travaux dans lesquels l’interaction entre les rayons X et la matière condensée est mise en œuvre.

Rayons X et Matière 4 est fortement axé sur l’utilisation du rayonnement synchrotron, outil puissant très largement utilisé par des communautés scientifiques pluridisciplinaires pour l’exploration de la matière dans de nouvelles directions. Cette quatrième édition traite de manière générale ou dans le cadre de mises en œuvre très spécifiques, des sources de rayons X, de la diffraction, de la diffusion, de l’absorption et de la tomographie appliquées à des domaines très variés.

Rédigé par des spécialistes de renom, ce livre est issu des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque « Rayons X et matière – RX2011 ».

1. Sources de rayons X et cohérence
2. Les rayons X aux petits angles
3. L’EXAFS : une technique synchrotron d’ordre local
4. La tomographie X en 2012 : état de l’art et évolution
5. Etudes structurales des états ordonnés complexes en science des matériaux
6. Matériaux conducteurs par ions oxyde
7. Peut-on expliquer et prévoir les textures de recristallisation à partir de la caractérisation de l’état déformé ?
8. Applications des rayons X pour l’étude des contaminants métalliques dans l’environnement

René Guinebretière

René Guinebretière est professeur à l’université de Limoges. Il enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux. Ses recherches portent sur l’élaboration et la caractérisation par diffusion et diffraction des rayons X de nanomatériaux oxydes au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS.

Philippe Goudeau

Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS au sein du département physique et mécanique des matériaux de l’institut Pprime de l’université de Poitiers. Ses recherches concernent l’étude des effets de microstructure et de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.