280 pages - janvier 2018
ISBN papier : 9781784053260
ISBN ebook : 9781784063269
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Les défaillances induites par les décharges électrostatiques (ESD) constituent un problème majeur de fiabilité et de robustesse des circuits intégrés et des systèmes électroniques.

Dans certaines applications comme celles de l’automobile, ce pourcentage peut être proche de 20 %. Les problèmes de défaillance catastrophiques induits par des décharges électrostatiques n’ont commencé à être sérieusement pris en compte qu’avec l’avènement des technologies microélectroniques et la large diffusion de leurs applications dans notre vie quotidienne.

Cet ouvrage examine les diverses méthodologies de protection ESD et montre par le biais de cas concrets que la meilleure approche en termes de robustesse et de coût consiste à mettre en oeuvre une stratégie globale de protection ESD. Cette approche est déclinée du composant au système pour proposer des techniques d’investigation et des méthodologies de simulation prédictive associées, validées sur différents cas d’étude.

1. Les normes ESD : du composant au système
2. Techniques de caractérisation
3. Stratégies de protection vis-à-vis des ESD
4. Méthodologies de modélisation et de simulation
5. Études de cas

Marise Bafleur

Marise Bafleur, directrice de recherche au LAAS-CNRS, anime l’axe stratégique SYNERGY dédié à l’énergie. Depuis 1997, elle mène des recherches sur la problématique de la protection des circuits et systèmes contre les décharges électrostatiques avec une centaine de publications internationales.

Fabrice Caignet

Fabrice Caignet, maître de conférences à l’université Paul Sabatier de Toulouse et responsable d’un groupe de travail international pour la modélisation des ESD sur les systèmes, travaille depuis 2005 sur la fiabilité des systèmes électroniques soumis à des décharges électrostatiques.

Nicolas Nolhier

Nicolas Nolhier, professeur en électronique à l’université Paul Sabatier de Toulouse et directeur adjoint du Centre spatial universitaire de Toulouse, a encadré plus de dix thèses au LAAS-CNRS dans le domaine de la protection des circuits électroniques contre les décharges électrostatiques.

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