236 pages - juin 2017
ISBN papier : 9781784052799
ISBN ebook : 9781784062798
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Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) sont au coeur du développement de l’éclairage moderne à LED.

Méthodologies d’analyse de la fiabilité de dispositifs à LED traite de l’état de l’art des technologies LED à base de GaN et se focalise principalement sur l’identification des phénomènes de dégradation. Il présente les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et applications de différents dispositifs à LED et offre une revue des différents mécanismes de défaillance utilisant les modèles électro-optiques.

L’identification et la cause de la défaillance sont abordées de manière très précise afin de donner au lecteur une méthodologie d’analyse efficace de dispositifs d’éclairage à LED. Cet ouvrage est donc basé sur des cas réels avec un modèle électrique et optique très fidèle mais relativement abordable.

1. Diodes électroluminescentes : état de l’art des technologies GaN
2. Outils et méthodes d’analyse de LED encapsulées
3. Méthodologie d’analyse de défaillance de LED bleues
4. Intégration de la méthodologie dès la conception d’un composant

Raphaël Baillot

Raphaël Baillot détient un doctorat en opto-électronique de l’université de Bordeaux. Depuis 2012, il est responsable R&D et fiabilité de l’entreprise Sunna Design.

Yannick Deshayes

Yannick Deshayes est maître de conférences à l’université de Bordeaux, titulaire d’un doctorat en électronique et d’une habilitation à diriger des recherches. Son domaine de recherche principal est l’évaluation des mécanismes de défaillance utilisant la complémentarité des mesures électriques et optiques ainsi que les simulations par éléments finis.


Introduction Table des matières